ПЭМ-125К — высокоразрешающий просвечивающий электронный микроскоп для фундаментальных исследований. Позволяет исследовать микроструктуру и фазовый состав объектов в нанотехнологиях, материаловедении, кристаллографии, геологии, микроэлектронике, биологии, медицине и др. областях, наблюдать и фотографировать изображение объектов в широком диапазоне увеличений, получать дифракционные картины, исследовать объекты при их наклоне и вращении с помощью гониометрического устройства.
Описание "Микроскоп просвечивающий электронный высокоразрешающий ПЭМ-125К"
ПЭМ-125К
ПЭМ-125К — высокоразрешающий просвечивающий электронный микроскоп для фундаментальных исследований.
Позволяет исследовать микроструктуру и фазовый состав объектов в нанотехнологиях, материаловедении,
кристаллографии, геологии, микроэлектронике, биологии, медицине и др. областях, наблюдать и фотографировать
изображение объектов в широком диапазоне увеличений, получать дифракционные картины, исследовать объекты при
их наклоне и вращении с помощью гониометрического устройства.
Основные достоинства и особенности прибора:
помехоустойчивая система управления прибором с использованием промышленного компьютера;
высокое разрешение по кристаллической решетке и по точкам;
высокое качество электронно-микроскопических изображений;
наличие трех режимов работы: большой угол наклона объекта (БН), высокое разрешение (ВР),
высокий контраст для медико-биологических объектов (ВК);
высокая виброустойчивость;
безмасляная откачка колонны;
4-х линзовый проекционный блок с компенсацией поворота изображения и микродифракционной картины;
наличие вобблеров юстировки микроскопа и фокусировки изображения;
полностью автоматизированная фоторегистрация электронно-микроскопических изображений на фотопленку
размером 60×90 mm;
отображение информации о состоянии прибора на дисплее компьютера.
ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
Параметры
Тип полюсного наконечника
БН
ВР
ВК
Разрешающая способность, nm по кристаллической решетке
по точкам
0,2 0,37
0,14 0,35
0,34 0,45
Диапазон электронно-оптических увеличений, ×
50 ... 1000000 31 ступень
50 ... 1300000 31 ступень
50 ... 800000 31 ступень
Максимальный угол наклона объекта гониометром, °
±60
±15
±15
Ускоряющее напряжение, kV со ступенями регулировки, kV
25 ... 125 0,05; 1; 5
Длина дифракционной камеры, mm
100 ... 5000 11 ступеней
80 ... 3500 11 ступеней
120 ... 6000 11 ступеней
Угол наклона электронного пучка на объекте, °
4
Напряжение питания (3 фазы), V
частота, Hz
220
50/60
Потребляемая мощность, kVA, не более
5,5
Габаритные размеры, mm, не более
Колонна со стендом
Шкаф питания
Высоковольтный источник
• длина
• ширина
• высота
1220
2100
2000
610
400
840
430
610
900
Общая масса микроскопа, kg, не более
1700
Опции:
система энергодисперсионного рентгеновского микроанализа;
комплект дифракционных приставок для исследования объектов в режиме
дифракции высокого разрешения, в том числе с нагревом объекта до 800 °C и охлаждением до -120 °C;
держатель объектов с двойным наклоном;
держатель с вращением объектов;
системы анализа изображения;
автономная система водяного охлаждения.
Вы можете обратиться за более детальной информацией к производителю "Микроскоп просвечивающий электронный высокоразрешающий ПЭМ-125К".
Всего в разделе
Обзоры по теме
